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華測高溫四探針測試儀器

簡要描述:華測高溫四探針測試儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表。

  • 產(chǎn)品型號:HGTZ-800
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-08-09
  • 訪  問  量:1421

詳細(xì)介紹

品牌北京華測應(yīng)用領(lǐng)域綜合

一、產(chǎn)品簡介

 華測儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

 華測儀器——高溫四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。

 HGTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測試多樣化的需求。


二、產(chǎn)品特點

高速加熱與冷卻方式

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實現(xiàn)快速冷卻。

溫度控制

過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。

不同環(huán)境下的加熱與冷卻加熱/冷卻

可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

三、功能特點

1. 多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測試

2. 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號衰減、提高測試精度;

3. 可以測量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率;

4. 可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測量功能;

5. 溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度準(zhǔn);

6. 儀器可自動計算試樣的電阻率pV;

7. 10寸觸摸屏設(shè)計,一體化設(shè)計機械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定、可靠;

8. 程控電子升壓技術(shù),紋波低、TVS防護(hù)系統(tǒng),保證儀器an全性;

9. 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;

10. Ihuace pro控制分析軟件。

四、軟件功能

HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合高分子材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性與an全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù),兼容,XP、win7、win10系統(tǒng)。

多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;

即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待;

圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);

使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;

故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報警功能。

五、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

整體為桌面型設(shè)計,采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實驗室無灰塵排放的要求。

內(nèi)置工控機、觸摸屏,可以利用工控機設(shè)定加熱曲線,并實現(xiàn)和其 他測試設(shè)備的集成控

定點控溫模式下,可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度。

控溫加熱下,可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。

在1000度下可以連續(xù)工作時間不低于1小時。

采用鉑熱電偶直接測定樣品附近溫度。

樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。

配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過流等報警保護(hù)裝置。

溫度均勻區(qū):60mm*100mm。

六、試驗

七、產(chǎn)品應(yīng)用

八、技術(shù)指標(biāo)

溫度范圍

室溫-1200℃,(反射爐加溫)配水冷機)

控溫精度

±0.5℃

測量精度

±0.25℃

升溫斜率

800℃/min(可10秒達(dá)800度)

降溫斜率

1-200℃/min(可自調(diào)整)

測量精度

0.5%

樣品規(guī)格

直徑:20mm以內(nèi);厚度:5mm以內(nèi)

電極材料

鉑金

測量方式

2線-4線測量方式

供電

220V±10%,50Hz

工作環(huán)境

0℃-55℃

存儲條件

-40℃-70℃

尺寸

750mmX660mmX360mm

重量

25kg




華測高溫四探針測試儀器

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