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簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器系列半導(dǎo)體封裝材料高低溫冷熱臺(tái)，它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量。冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作 站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-09-05訪 問(wèn) 量：1916產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 北京華測(cè) |
|---|
華測(cè)儀器Huace650T系列高低溫冷熱臺(tái)
華測(cè)儀器系列半導(dǎo)體封裝材料高低溫冷熱臺(tái)
Huace650T高低溫冷熱臺(tái)由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作 站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。同時(shí)測(cè)試功能上也增加了電阻測(cè)試、TSDC等測(cè)量功能。它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量。
公司主營(yíng)產(chǎn)品：
材料測(cè)試儀器：鐵電參數(shù)分析儀、高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀、高溫介電溫譜儀、高壓極化裝置、高溫退火爐、高溫閃燒試驗(yàn)、壓電陶瓷極化裝置、壓電系數(shù)測(cè)試儀、壓電薄膜極化裝置、阻抗分析儀、高阻計(jì)、靜電計(jì)、功能材料綜合測(cè)試系統(tǒng)等。
絕緣材料測(cè)試儀器：絕緣診斷測(cè)試儀、電壓擊穿試驗(yàn)儀、絕緣材料無(wú)局放測(cè)量裝置、耐電弧試驗(yàn)儀、表面/體積電阻率測(cè)試儀、高阻計(jì)、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕試驗(yàn)儀、電弱點(diǎn)測(cè)試儀、絕緣材料空間電荷測(cè)試儀、漆包線綜合測(cè)試儀、絕緣油介質(zhì)損耗及體積電阻率測(cè)試儀、絕緣油擊穿試驗(yàn)儀等。
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