簡(jiǎn)要描述:華測(cè)變溫鐵電測(cè)試盒/鐵電分析儀,主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線(xiàn)鐵電薄膜的Pr值??蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線(xiàn)及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。
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品牌 | HC/華測(cè) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,航天,電氣,綜合 |
華測(cè)變溫鐵電測(cè)試盒/鐵電分析儀
華測(cè)變溫鐵電測(cè)試盒/鐵電分析儀產(chǎn)品介紹
高溫鐵電測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量,可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度,它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線(xiàn),還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。
鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線(xiàn)、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性,可準(zhǔn)確地測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線(xiàn)鐵電薄膜的Pr值??蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線(xiàn)及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。
華測(cè)變溫鐵電測(cè)試盒/鐵電分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
l 電滯回線(xiàn)測(cè)量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場(chǎng)±Ec、電容量C等參數(shù)
l 鐵電疲勞性能測(cè)量
l 鐵電保持性能測(cè)量
l 電阻測(cè)量
l 漏電流測(cè)量
l 高精度三維移動(dòng)平臺(tái)
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